《表2 两组儿童各表情诱发的左右两侧电极P3和P4的N170潜伏期比较 (±s, ms)》

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《孤独症谱系障碍儿童辨认基本情绪面孔早期加工阶段的异常特征》

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注:F值为控制年龄和总智商后的重复测量方差分析统计值。

对N170潜伏期进行方差分析，结果发现情绪×位点×组别的交互效应显著（F=3.35，P=0.028）。进一步进行简单简单效应分析结果显示，在总表情、害怕表情下，对照组表现出左侧颞区电极P3位置的N170潜伏期显著快于右侧；在高兴和伤心表情下，对照组左侧电极的N170潜伏期也表现出快于右侧的趋势，而ASD组不存在这些差异（表2）。