《表3 PS@SiO2-2、中空Si O2-2微球的比表面积、平均孔径、孔容对比》
进一步探究了TEOS用量对中空SiO2球的球壳厚度的影响。分别用PS:TEOS质量比为1:2、1:3、1:4对PS-3微球进行包覆。由图6可见,中空SiO2微球的壁厚随着TEOS用量增大而增厚,分别为20、23和28 nm。
图表编号 | XD00132382700 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.04.01 |
作者 | 蔡佳文、李跃、吴春春、丁新更、杨辉 |
绘制单位 | 浙江大学材料科学与工程学院、浙江大学浙江–加州国际纳米技术研究院、浙江大学台州研究院、浙江大学浙江–加州国际纳米技术研究院、浙江大学台州研究院、浙江大学材料科学与工程学院、浙江大学材料科学与工程学院、浙江大学浙江–加州国际纳米技术研究院、浙江大学台州研究院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |