《表3 部分单体检测线圈的谐振频率和最优激励频率》

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《基于阻抗检测的多路自动调谐式无线充电金属检测系统》

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为进一步验证自动调谐方法和多路金属检测功能的实现，通过串口读取STM32F103芯片在950～1050kHz扫频范围内测得的部分单体检测线圈对应的输出电压，检测结果如图20所示。由于各单体检测线圈的分布位置不同，其谐振频率也不尽相同，但均分布在950～1050kHz的范围内，通过扫频自动调谐过程，即可确定各单体检测线圈的谐振频率，继而获得最优激励频率，检测结果见表3。