《表1 GO增强型SPR光纤传感器与GO修饰前的银-SPR光纤传感器的性能对比（1.32～1.34RIU)》

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《氧化石墨烯增强型表面等离子体共振光纤传感器》

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为研究GO自组装膜层对传感器性能的影响，将本文提出的GO增强型SPR光纤传感器与文献[14]中采用同样方法制作、同样光纤结构参数、银膜厚度均为40nm的另一类未经GO修饰的“Ag-侧边抛磨光纤SPR传感器”进行了性能对比，如表1所示。分别在折射率为1.32，1.33，1.34RIU的待测样液中测试，两类传感器的平均折射率响应灵敏度、平均w1/2、平均器件优化指标FOM分别由各测试点值代入（1）式、（2）式、（3）式计算并求平均值得到。从表中可以看到，当待测样液折射率为1.32～1.34RIU时，未经GO修饰的“Ag-侧边抛磨光纤SPR传感器”的平均灵敏度为1523.5nm/RIU，平均w1/2为39.3nm；而GO增强型SPR光纤传感器的平均灵敏度增大为2252.5nm/RIU，相对于GO修饰前提高了1.48倍，但由于SPR共振峰展宽，其平均w1/2增大到60.5nm。由平均灵敏度与平均w1/2的比值计算得到平均优化指标FOM，分别为38.76RIU-1、37.22RIU-1，两者相当。这是因为寡层GO膜与银膜结合激发的表面等离子体波强度大大增强，更多的光能耦合进表面等离子体波中并与外界物质作用，使得传感器灵敏度增加，但表层修饰ODT、GO复合膜也使得传感器SPR共振峰展宽，w1/2增大与灵敏度提高相抵消，因而得到的传感器优化指标与GO修饰前的相当。