《表7 2010年330 k V电压等级下污秽不均匀系数》

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《不同电压等级下绝缘子积污特性研究》

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分别将2010年、2013年、2016年所测绝缘子的ESDD数据进行Grubbs法检验，剔除异常数据来获得准确的分析结果，取每片绝缘子K值的平均值来进行最终计算，计算结果分别如表7～表9所示。