《表1 6组样本的频点数据Tab.1 Frequency point data of the six samples》

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《基于低频噪声检测的电力MOSFET可靠性分析》

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以低频噪声测量得到的6组数据为样本（见表1）结合式（12）和式（13），便可求出样本空间的无偏估计量，然后对198只P-MOSFET各自频点对应的NSPD与1和10 Hz处噪声功率谱值之比Sσ之差作统计平均，即可确定A1和B1的大小。