《表2 各层坏区数统计：高速大容量综合处理器坏区管理技术在高分五号卫星上的应用》
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《高速大容量综合处理器坏区管理技术在高分五号卫星上的应用》
综合处理器共有900个坏区，每层的坏区统计见表2。
| 图表编号 | XD00105445700 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.10.25 |
| 作者 | 赖晓敏、徐瑞瑞、刘攀、史琴、闵康磊、刘辉 |
| 绘制单位 | 上海航天电子技术研究所、上海航天电子技术研究所、上海航天电子技术研究所、上海航天电子技术研究所、上海航天电子技术研究所、上海卫星工程研究所 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
