《数字集成电路应用与实验》求取 ⇩

数字集成电路1

Ⅰ集成逻辑“门”1

实验一 集成“与非”门参数测试1

实验二 集成“三态”门及其应用6

实验三 OC门及其应用10

实验四“门”电路互换及中小规模集成电路功能测试13

附1 逻辑门在数字电路中的应用15

附2 TTL集成门的使用规则17

附3 常用几种集成“门”功能及引脚图18

Ⅱ 组合电路20

实验五 组合逻辑电路设计20

实验六 常用组合电路及其应用23

实验七 组合电路中的竞争冒险29

Ⅲ 时序电路31

实验八 触发器及参数测试31

实验九 计数器及其应用40

实验十 计数、译码和显示45

实验十一 分频器设计及其应用49

实验十二 移位寄存器51

实验十三 同步时序电路逻辑设计53

Ⅳ 中规模集成电路55

实验十四 中规模全加器55

实验十五 中规模计数器及其应用59

实验十六 中规模数据选择器及其应用62

实验十七 中规模移位寄存器66

实验十八 中规模集成电路综合应用70

Ⅴ 数字集成电路综合设计72

实验十九 数字秒表72

实验廿 串行加法器73

实验廿一 简易数字频率计75

实验廿二 乒乓灯游戏77

实验廿三 智力竞赛抢答装置80

实验廿四 交通信号灯实时控制81

实验廿五 数字组合系统设计实例82

实验廿六 自选综合设计题85

Ⅵ 脉冲波形的产生与变换88

实验廿七 由集成“门”组成的脉冲单元电路88

实验廿八 555定时器及其应用94

实验廿九 集成单稳态触发器99

CMOS电路102

实验卅CMOS或非门参数测试102

实验卅一 CMOS—TTL接口电路105

实验卅二 CMOS触发器和计数器107

附 CMOS使用规则109

GAL可编程逻辑器件111

Ⅰ可编程通用逻辑阵列GAL简介111

Ⅱ 可编程逻辑器件设计软件FASTMAP113

Ⅲ EXPRO-80通用器件编程器116

实验卅三 GAL器件编程设计举例119

实验卅四 GAL组合电路逻辑设计131

实验卅五 GAL时序电路逻辑设计137

附 GAL实验上机操作144

可编程ASIC技术（FPGA/EPLD）147

Ⅰ可编程ASIC技术与电子系统设计147

Ⅱ 可编程ASIC器件结构及开发系统149

实验卅六 ASIC器件（FPGA/EPLD）实验举例154

实验卅七 ASIC器件（FPGA/EPLD）的组合逻辑设计160

实验卅八 ASIC器件（FPGA/EPLD）的时序逻辑设计162

实验卅九 ASIC器件（FPGA/EPLD）大型综合性实验164

课题一 数字时钟165

数字电路课程设计165

课题二数字频率计167

课题三 简易双积分式数字电压表169

课题四 出租汽车里程计价表173

课题五 数字存贮示波器175

课题六 红外线数字转速表176

附1 自选课程设计题177

附2 课程设计用集成电路器件引脚图178

附录一 组合电路安装、调整及故障检测181

附录181

附录二时序电路故障检测185

附录三 实验报告格式及书写规范188

附录四 数字逻辑箱190

附录五 SS—5702双踪示波器193

附录六 常用集成电路器件型号、名称一览表197

附录七 本书用集成电路器件引脚索引205

附录八 常用电阻器、电容器型号及主要性能参数206

附录九 数字电路各实验内容提要213