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目录1

第一章　逻辑元件电路1

1.1 “与”门1

1.2 “或”门2

1.3　反相器特性3

1.4　逻辑门的应用4

1.5 定时图7

1.6　逻辑电路8

1.7　“与非”门和“或非”门10

1.8　“与非”门的对偶功能11

1.9　“或非”门的对偶功能11

1.10　符号的互换12

1.11　“异或”门13

1.12　存贮元件15

1.13　R-S锁存器15

1.14　用“与非”门组成的R-S触发器17

1.15 竞争条件18

1.16　其它类型的触发器19

1.17　时钟、预置及清除信号19

第二章　计算机和计算器的结构21

2.1　概述21

2.2　存贮器和算术逻辑单元的工作23

第三章　基本的数字测试仪器45

3.1　应用逻辑探头的检修45

3.2　应用逻辑脉冲发生器和逻辑探头的检修52

3.3　应用逻辑夹的检修59

3.4　应用逻辑比较器的检修61

3.5　数字检修技术63

3.6　数字电路故障分析68

3.7　多逻辑系列探头和脉冲发生器73

3.8　示波器75

第四章　初步检修方法80

4.1　基本检修步骤80

4.2　各步骤的检修原理86

第五章　数字系统的功能分析92

5.1　系统的评价92

5.2　电气性能分析100

6.1　着手检修的顺序计划109

第六章　系统检修方法109

6.2　模式相容性111

6.3　逻辑检修112

6.4　数字检修的八条基本规则115

6.5　检修经验的发展120

6.6　检修职责说明120

6.7　症状分析121

6.8　诊断程序124

6.9　间发性故障125

6.10　检修捷径126

6.11　学习他人的经验127

6.12　其它的辅助资料128

7.1　概述133

7.2　功能分析原理133

第七章　数字逻辑分析器133

7.3　逻辑分析器134

7.4　触发串行数据136

7.5　触发并行数据137

7.6　逻辑状态分析器的特性138

7.7　逻辑分析器的操作和应用139

7.8　模式分析器的操作142

第八章　数字电路和印刷电路板的测试144

8.1　功能测试和故障隔离144

8.2　故障隔离148

8.3　数字测试系统149

8.4　探头硬件153

9.1　基础元件155

第九章　印刷电路板的测试模型155

9.2　宏电路特性160

9.3　三态电路模型化方法160

第十章　测试过程中的数字逻辑模拟168

10.1　电路模型的模拟168

10.2　竞争、临界竞争和冒险171

10.3　模型验证174

10.4　电路板的模型化177

第十一章　故障电路的模型和模拟180

11.1　概述180

11.2　故障的检测185

11.3　故障插入级187

11.5　逻辑上等效的故障189

11.4　故障机189

11.6　故障响应190

11.7　停于第一个故障192

11.8　多位置故障193

11.9　选择被测故障的折衷方案194

11.10　可能故障检测195

11.11　测试存贮元件197

第十二章　测试模式的生成199

12.1　通路敏化199

12.2　初始化202

12.3　故障定位和模拟结果205

12.4　后处理程序206

12.7　故障定位207

12.6　测试系统操作软件207

12.5　接口适配器207

12.8　反馈环211

12.9　故障隔离探测算法212

12.10　并联驱动器215

12.11　内部器件的反馈215

12.12　脉冲响应217

12.13　面向操作者的探测218

12.14　有效性219

附录Ⅰ 英特尔（INTEL）4004微处理器系统的检修220

附录Ⅱ 莫托罗拉（MOTOROLA）M6800微处理器系231

统的检修231

附录Ⅲ 仙童（FAIRCHILD）公司的F8微处理器系统240

的检修240