《电子工业防静电危害》求取 ⇩

目录1

第一章　静电现象概论1

§1.1 静电危害的产生3

1.1.1　静电的产生和消失6

1.1.2　电荷产生、消失、积累与材料等因素的关系19

§1.2 绝缘击穿和静电放电45

1.2.1　气体的电离45

1.2.2　火花放电54

1.2.3　电晕放电72

1.2.4　沿面放电80

1.2.5　静电放电和介质击穿81

§1.3 防止静电危害的措施88

1.3.1　静电放电危害的防止88

1.3.2　防止带电的措施93

第二章　静电的测试方法103

§2.1 静电测量仪表105

2.1.1　静电测量仪器的简单原理106

2.1.2　若干常见的静电测量仪器108

§2.2 静电以及静电危害的测量118

2.2.1　电量的测量118

2.2.2　电位的测量123

2.2.3　静电噪声及电磁干扰的模拟128

2.2.4　人体带电的测量136

2.2.5　材料静电特性测试149

2.2.6　放电现象的观测168

第三章　半导体器件的防静电措施176

§3.1 半导体器件的静电击穿现象177

3.1.1　支配静电击穿的因素177

3.1.2　器件的静电击穿183

3.1.3　判断击穿的方法199

3.1.4　半导体器件静电放电基础试验和理论进展概况205

3.2.1　半导体器件静电击穿的实际状态210

§3.2 器件击穿的实际状态210

3.2.2　IC、LSI击穿的实际状态219

§3.3 静电击穿的试验方法228

3.3.1　人体模型法229

3.3.2　器件带电模型240

3.3.3　各种检测方法存在的共同问题249

§3.4 耐击穿性能和器件的保护252

3.4.1　Si器件253

3.4.2　化合物半导体器件277

§3.5 处理及使用半导体器件时的注意事项282

3.5.1　各过程中的注意事项283

3.5.2　考虑到用户时的注意事项287

第四章　电子仪器的防静电措施290

§4.1 静电噪声的防止292

4.1.1　基础研究292

4.1.2　静电放电噪声模拟装置300

4.1.3　防静电噪声的措施310

§4.2 电子计算机的防静电措施339

4.2.1　电子计算机的环境因素340

4.2.2　小型机系统的防静电措施348

4.2.3　终端的防静电措施363

§4.3 磁带录象机及家用电器的防静电措施377

4.3.1　磁带录象机的防静电措施377

4.3.2　彩色电视机的防静电措施387

4.3.3　录音机的防静电措施396

第五章　防静电危害的环境设计403

§5.1 环境设计的要点404

5.1.1　事后处理的环境设计404

5.1.2　事前处置的环境设计411

§5.2 静电管理419

5.2.1　人体带电的管理420

5.2.2　物品类带电的管理426

§5.3 尺寸效应429

主要参考文献433