《黑白显像管和显示管》求取 ⇩

第一章　概述1

§1.1　发展过程1

1.1.1　偏转角1

1.1.2　屏幕1

目录1

1.1.3 管颈2

§1.2　显像管的结构2

1.2.1　荧光屏的制作形式2

1.2.2　阴极的结构形式3

1.2.3　电子枪3

1.3.2　荧光粉4

1.3.3 消气剂4

§1.3　推动显像管技术进步的材料工业的发展4

1.3.1　有机膜4

1.2.4　防爆的型式4

1.3.4　无磁不锈钢5

§1.4　显像管的应用5

第二章　电子枪7

§2.1　电子检的基本结构和工作原理7

2.1.1　基本结构7

2.1.2　工作原理8

§2.2　对电子枪的要求9

§2.3　电子枪的主要参量10

2.4.1　发射系统的结构和工作原理12

§2.4　发射系统的计算12

2.4.2　截止电压的计算15

2.4.3　阴极负载和调制特性20

2.4.4　三极式发射系统的光学参数与结构尺寸的关系37

2.4.5　四极式发射系统的光学参数与结构尺寸的关系38

§2.5　聚焦系统59

2.5.1　黑白显像管用静电透镜61

2.5.2　静电透镜光学参量61

2.5.3　静电透镜的像差63

2.5.4　常见静电透镜的基点和球差系数68

§2.6　漂移区77

2.6.1　均匀同心束的扩散77

2.6.2　显像管漂移空间中电子束的扩散81

§2.7　电子枪的设计82

2.7.1　设计方法82

2.7.2　电子枪优化设计与设计实例98

第三章　偏转线圈105

§3.1 引言105

§3.2　有界均匀磁场对电子束的偏转106

3.2.1　正弦关系式及偏转中心前移公式107

3.2.2　偏转散焦108

3.2.3　交点轨迹的曲率半径110

3.2.4　非线性失真110

3.2.5　偏转灵敏度111

3.2.6　极限管颈111

3.3.1　偏转线圈的结构形式112

§3.3　偏转线圈的结构及磁场分布112

3.3.2　偏转线圈的磁场分布113

§3.4　偏转磁场场参数的理论计算115

3.4.1　单匝电流导线的场参数115

3.4.2　圆弧部分场参数的求法118

3.4.3　连续分布场参数的求法120

§3.5　场参数的测量123

3.5.1　测试原理124

3.5.2　测试步骤及框图124

3.5.3　由测量数据计算场参数的方法125

3.5.4　计算举例126

3.6.1　理想高斯偏转128

§3.6　三级偏转像差128

3.6.2　三级偏转像差130

3.6.3　三级偏转像差系数与光栅图的关系131

3.6.4　常枕桶场的偏转像差系数135

§3.7　球面屏对畸变和像散的校正139

§3.8　偏转磁场的等效均匀场处理141

§3.9　钟形场半宽度及起迄点的确定145

§3.10　钟形场的高斯轨迹、斜率及偏转中心的解析表达式147

§3.11　暗角余量的确定149

§3.12　对某一固定偏转角所需安匝数的近似确定法151

§3.13　关于电感的近似计算153

§3.14　偏转功率及偏转功率指数154

§3.15 一些其他缺陷及相应的调节方法158

第四章　玻壳159

§4.1　玻壳设计159

4.1.1　屏的设计160

4.1.2　锥体的设计171

4.1.3　锥体曲面光顺性的检验和判断182

§ 4.2　玻壳应力的计算机计算185

4.2.1　计算原理186

4.2.2　计算步骤195

4.2.3　计算结果及讨论199

§4.3　玻亮应力的测量203

4.3.1　光测弹性力学法203

4.3.2　电阻应变仪法206

§4.4　防爆219

第五章　荧光屏227

§5.1　荧光屏特性227

5.1.1 发光亮度227

5.1.2　光谱与色度229

5.1.3　余辉232

5.1.4　分辨率236

5.1.5　对比度237

5.1.6　次级发射238

5.1.7　稳定性239

§5.2　玻亮清洗240

5.2.1 清洗原理240

5.2.2　清洗工艺243

5.2.3　设定条件245

5.2.4　清洗检验246

§5.3　荧光粉层制备247

5.3.1　荧光粉层性能249

5.3.2　沉淀制屏原理254

5.3.3　参量选择257

5.3.4　沉淀工艺269

5.3.5　荧光粉层检验273

§5.4　有机膜涂覆274

5.4.1　成膜机理274

5.4.2　参量选择276

5.4.3　涂覆工艺281

5.4.4　有机膜检验284

§5.5　蒸铝285

5.5.1　荧光屏铝化作用285

5.5.2　铝膜特性287

5.5.3　蒸铝的物理过程292

5.5.4　蒸铝工艺295

5.5.5　蒸铝质量检验302

§5.6　荧光屏检验303

第六章　排气和老炼308

§6.1　玻壳去气308

6.1.1　玻壳的表面吸附309

6.1.2　玻壳的内部溶解311

6.2.1 电子枪的表面吸附312

6.1.3　卤素物——氟的影响312

§6.2　电子枪去气312

6.2.2 电子枪的内部溶解313

6.2.3　零件预处理对放气量的影响314

§6.3　阴极分解315

6.3.1　阴极分解的机理315

6.3.2　台下分解317

§6.4　排气规范的制订324

6.4.1　玻壳去气规范324

6.4.2 阴极分解规范326

§6.5　阴极的激活与老炼328

6.5.1　激活与老炼的机理329

6.5.2　规范的制订332

6.5.3　阴极质量检查333

第七章　寿命与可靠性337

§7.1　影响显像管寿命的内在原因337

7.1.1　氧化物阴极的化学物理过程337

7.1.2　基金属材料的影响341

7.1.3　涂层材料和结构的影响342

7.1.4　阴极工作温度的影响347

§7.2　显像管内的残余气体及影响348

7.2.1　显像管内气体的来源348

7.2.2　吸气剂对残余气体的影响352

7.2.3　残余气体对显像管寿命的影响357

§7.3　显像管的可靠性361

7.3.1　量像管的失效规律362

7.3.2　影响显像管可靠性的因素364

7.3.3　玻璃及X射线的泄漏365

7.3.4　玻壳强度及显像管的爆炸367

7.3.5　高压跳火373

7.3.6　真空卫生及影响376

§7.4　寿命试验379

7.4.1　加速寿命试验的理论依据380

7.4.2　以温度为加速变量的寿命试验385

7.4.3　实验数据的处理387

§8.1　测试条件391

第八章　黑白显像管和显示管的测试391

§8.2　发光特性393

8.2.1　亮度393

8.2.2　发光颜色395

8.2.3 ？特性398

§8.3　？质量399

8.3.1　阴极发射399

8.3.2　阴极面像400

§8.4　聚焦质量400

8.4.1　线宽的测量401

8.4.2　屏幕上所能分辨的明暗交替线条总数的测量405

§8.5　对比度406

8.5.2　细节对比度407

8.5.1　大面积对比度407

§8.6　气体系数408

第九章　显示管410

§9.1　概述410

§9.2　电子枪413

9.2.1　调制特性413

9.2.2　阴极发射密度419

9.2.3　设计高分辨率电子枪时需考虑的问题423

9.2.4　电子枪的设计步骤424

§9.3　偏转线圈的偏转散焦问题425

9.3.1　表征偏转散焦的特性常数425

9.3.2　平面屏上的偏转散焦428

9.3.3　偏转散焦最小的条件430

9.3.4　消除偏转散焦的方法432

§9.4　荧光屏面防眩技术435

第十章　显像管和显示管的使用、故障判断及应用前景437

§10.1　电视显像管的结构和工作原理437

§10.2　显像管的正确使用方法439

10.2.1　阴极、灯丝的供电问题439

10.2.2　亮度调整与亮度调制439

§10.3　显像管的更换441

§10.4　故障的判断441

§10.5　对显像管修理的补救办法444

§10.6　显像管使用应注意的问题445

§10.7　显像管的应用446

附录　有关计量单位换算表449