《电气绝缘测试技术》
作者 | 刘耀南,邱昌荣编 编者 |
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出版 | 北京:机械工业出版社 |
参考页数 | 316 |
出版时间 | 1988(求助前请核对) 目录预览 |
ISBN号 | 7111003179 — 求助条款 |
PDF编号 | 86379838(仅供预览,未存储实际文件) |
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绪论1
第一章绝缘材料的电气性能3
1-1 介质电导和绝缘电阻率3
1-2 介质极化和介电系数9
1-3 介质损耗和损耗角正切18
1-4 介质的击穿和绝缘强度29
附录Ⅰ 偶极子极化率αd=μ 2 0/3kT的推导38
附录Ⅱ 双层介质的电场分布39
第二章绝缘电阻和绝缘电阻率的测量40
2-1 绝缘电阻和电阻率40
2-2 试样和电极41
2-3 直接测量法测量绝缘电阻47
2-4 比较法测量绝缘电阻52
2-5 充电法测量绝缘电阻54
2-6 高电阻的测量技术56
2-7 泄漏电流的测量技术59
附录Ⅰ ZC-36型高阻计的测量原理61
附录Ⅱ 预处理条件和条件的建立62
附录Ⅲ ZC-36型高阻计的测试误差分析64
第三章低频下相对介电系数和介质损耗角正切的测量65
3-1 基本概念65
3-2 试样和电极66
3-3 电桥法概述71
3-4 西林电桥的测量原理、灵敏度和误差分析73
3-5 高压工频正接西林电桥的结构和使用方法77
3-6 高精密高压西林电桥的结构和使用方法81
3-7 大电容西林电桥的结构和测量原理86
3-8 反接电桥、对角线接地电桥的结构和测量技术90
3-9 工频损耗测量技术92
3-10 强电场或强磁场干扰下介质损耗角正切的测量97
3-11 低压工频电桥的测量原理和应用100
3-12 流比器型高压电容电桥的测量原理和应用102
3-13 超低频下相对介电系数和介质损耗角正切的测量105
第四章高频下相对介电系数和介质损耗角正切的测量110
4-1 试样和电极110
4-2 低压西林电桥的结构和测量方法113
4-3 电压比例臂变压器电桥的原理和测量方法116
4-4 双T电桥的结构和测量原理120
4-5 谐振法概述123
4-6 变Q值法测量原理和测量技术124
4-7 变电纳法测量原理和测量技术128
4-8 高频损耗测量技术131
4-9 不接触电极的结构和测量方法135
4-10 介电特性测量新技术143
附录 二电极系统边缘电容的校正146
第五章击穿和耐压试验148
5-1 概述148
5-2 试样、电极、媒质以及升压方式的选择149
5-3 工频电压下绝缘的击穿和耐压试验153
5-4 直流电压下绝缘的击穿和耐压试验160
5-5 冲击电压下绝缘的击穿和耐压试验165
5-6 用非破坏性试验方法推断绝缘强度171
附录 球隙放电电压174
第六章局部放电的测量和电老化试验176
6-1 局部放电的基本概念176
6-2 有关局部放电的参数及其相互关系177
6-3 局部放电检测方法181
6-4 脉冲电流法测量线路和原理183
6-5 脉冲电流法测试线路的特性190
6-6 局部放电测试仪器和试验方法196
6-7 局部放电测量技术201
6-8 电老化机理和电老化寿命208
6-9 绝缘材料耐局部放电性试验210
6-10 电老化试验新方法214
6-11 抗漏电痕迹试验220
第七章绝缘的耐热性试验224
7-1 概述224
7-2 变形温度测定法226
7-3 热老化试验228
7-4 快速评定热老化寿命方法237
7-5 耐电弧性的测定245
附录 推导-1gβ-(0.457E/R)1/T=常数248
第八章实验的统计分析和设计251
8-1 实验数据的分散性及其统计规律251
8-2 数据的整理和取舍254
8-3 统计推断方法、大样本试验结果的分析258
8-4 “t”分布、小样本试验结果的分析263
8-5 x2分布、总体方差的显著性检验和区间估计267
8-6 F分布、从二样本方差检验总体方差270
8-7 方差分析273
8-8 相关和回归分析283
8-9 惠勃尔分布、寿命的估计289
8-10 试验设计296
附录308
表ⅠPz[=2/?π∫z 0 e-z2dz]概率积分表308
表Ⅱ t值表308
表Ⅲ x2值表309
表Ⅳ 方差比值表310
表Ⅴ 相关系数表312
表Ⅵ 试样数10以下中值、5.%和95%等级表312
参考文献313
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