《专利文献通报 一般测试 1985年第3期》
作者 | 中国专利局专利文献服务中心 编者 |
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出版 | 北京:专利文献出版社 |
参考页数 | 293 |
出版时间 | 1985(求助前请核对) 目录预览 |
ISBN号 | 17242·1493 — 求助条款 |
PDF编号 | 8617268(仅供预览,未存储实际文件) |
求助格式 | 扫描PDF(若分多册发行,每次仅能受理1册) |

一、线性尺寸、角度、面积、方位的测量(G01B、C)1
机械、电磁方式的计量(G01B1/00~7/00)1
光学、流体、波或粒子方式的计量(G01B9/00~21/00)42
距离、水准、方位的测量(G01C)88
二、测量的显示和记录方法、多变量测量仪表(G01D)106
显示和记录方法及装置(G01D1/00~9/00)106
显示和记录组件(G01D11/00~21/00)126
三、液体体积、流量、称量等计量(G01F、G)132
液体体积、流量等计量(G01F)132
称量(G01G)164
四、振动、光学、温度的测量(G01H、J、K)179
机械振动的测量(G01H)179
光强、光谱测定、比色法等(G01J)187
温度、热量测量(G01K)203
五、力、功率和静、动平衡测量(G01L、M)217
力、功、功率等测量(G01L)217
结构的性能和静、动平衡试验(G01M)244
六、速度、加速度和冲击的测定(G01P)275
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