《工业中的核测量》求取 ⇩

目录1

前言1

1基本概念3

1.1同位素和放射性3

1.2放射性的基本定律和单位5

1.3辐射源11

1.3.1密封辐射源的特性11

1.3.2密封性的检验和判据12

1.3.3辐射源的使用和商品化13

1.4辐射与物质的相互作用14

1.4.1α辐射15

1.4.2β辐射16

1.4.3γ辐射21

1.4.4中子辐射25

2辐射探测系统27

2.1电离室29

2.2正比计数管32

2.3G-M计数管34

2.4半导体探测器40

2.5闪烁计数器43

2.5.1闪烁体45

2.5.2光电倍增管50

2.5.3工作稳定性53

2.5.4闪烁能谱测量56

2.5.5带半导体光敏器件的闪烁探测器57

2.6工业核仪表中的探测器58

3测量方法和测量仪表63

3.1同位素测量方法63

3.1.1直接测量63

3.1.3补偿测量64

3.1.2差分测量64

3.1.4自动校准65

3.2统计测量误差66

3.3放射性同位素测量仪表67

3.3.1用于信号处理的电子学系统68

3.3.2通用测量系统70

3.3.3智能测量仪表71

3.3.4多道测量装置72

3.4控制系统74

4极限值指示76

4.1放射性同位素的极限值指示（γ继电器）76

4.2适用于解决极限值指示问题的几种放射性同位素装置78

4.3料位指示器γ继电器的应用84

4.4料位指示器在自动控制中的应用88

5.1吸收式料位测量仪表93

5料位测量93

5.2跟踪式料位测量仪表97

5.3γ定位剖面测量100

5.4利用放射性同位素探测进行料位控制101

5.5料位测量和工艺监督103

6厚度测量104

6.1利用放射性同位素进行厚度测量104

6.2放射性同位素厚度测量装置107

6.3厚度测量装置的应用112

6.4厚度（表面质量）控制117

6.5利用厚度测量仪表进行工艺监督121

7镀层厚度测量124

7.1基于β辐射反射技术的镀层厚度测量124

7.2基于β辐射反射技术的镀层厚度测量装置126

7.3.2锌镀层厚度的测量129

7.3.1锡镀层厚度的测定129

7.3利用β辐射反射原理进行镀层厚度测量的应用129

7.3.3银镀层厚度的测量130

7.3.4金镀层厚度的测量130

7.3.5双镀层厚度的测量130

7.3.6塑料和涂料涂层厚度的测量131

7.3.7其它涂层厚度的测量131

7.3.8镗孔电镀层厚度的测量131

7.4利用X射线荧光测量层厚132

8密度测量135

8.1利用γ辐射吸收法进行密度测量135

8.2测量位置的设计138

8.2.1测量仓的充满度138

8.2.2气泡138

8.2.4测量管的磨损139

8.2.3测量管中的沉积139

8.2.5吸收长度的选定140

8.2.6校准可能性的保证140

8.3密度测量仪表141

8.4放射性同位素密度计的应用143

9水分含量测量147

9.1利用中子慢化法测量水分含量147

9.2湿度计的工艺应用151

9.2.1水分含量不变的混合料的生产151

9.2.2供给特定量水分153

9.2.3带质量修正的加料154

10利用核仪表测定材料成分156

10.1以辐射吸收原理工作的仪表156

10.1.1β辐射吸收的应用156

10.1.2γ辐射吸收的应用156

10.2.1β辐射反射的应用161

10.2利用辐射反射（散射）进行测量161

10.2.2γ辐射反射的应用162

10.3次级辐射的测量163

10.3.1由β辐射产生的次级辐射的测量164

10.3.2由γ辐射产生的次级辐射的测量165

10.3.3荧光辐射的测量165

10.4中子辐射的应用169

10.4.1活化分析169

10.4.2自发核反应的应用170

10.4.3中子吸收和散射的应用170

10.5γ辐射的选择相互作用170

10.6根据天然放射性测定材料成分171

11核方法的其它工业应用173

11.1输送带上的连续测量173

11.2包裹内装物品的检查175

11.3利用γ辐射吸收探测烟176

11.4静电荷的消除177

11.5可携式核仪器177

11.5.1土壤密度和水分含量的测量177

11.5.2利用反射技术进行壁厚测量181

11.5.3料位测定计181

12工业用放射性同位素测量装置的建立182

12.1装置的适当选定和数据获取182

12.2规划应用183

12.3现场操作184

12.4辐射防护184

12.4.1基本原理184

12.4.2辐射源容器186

参考文献189

附录190