《超声波探伤经验》求取 ⇩

1．为什么要进行超声波无损检测1

2．超声波检测的任务1

2.1．缺陷的检测3

2.2．缺陷的定位6

2.3．缺陷的评价8

2.3.1．扫查法9

2.3.2．信号最大值的评价法10

2.4 缺陷类型的判别12

3．超声波辐射和接收器—探头12

3.1．压电晶片的固有频率14

3.2．压电晶片的阻尼14

3.3．声脉冲的辐射15

3.4．声脉冲的接收17

3.5．脉冲回波法17

4．超声波检测仪—电路及其工作原理19

4.1．荧光屏上的探伤图形22

5．应用不同波型进行检测27

6．标准系列探头及其特性31

6.1．直探头32

6.2．斜探头34

6.3．收发式探头38

7．耦合技术46

7.1．表面状态47

7.2．延迟块的作用51

7.3．探头耦合55

7.3.1．软膜直探头55

7.3.2．硬膜直探头57

7.3.3．收发式直探头58

7.3.4．斜探头60

7.4．薄层耦合法61

7.5．水浸法66

7.5.1．水延迟区68

7.5.2．水延迟区的作用69

7.5.3．不变水延迟声程检测方法71

7.5.4．变化水延迟声程检测方法73

7.6．局部水浸法78

7.7．旋转探头法84

7.8．热表面部件的检测法86

7.8.1．防热的水延迟声程88

7.8.2．防热的恒温延迟块92

7.8.3．干耦合93

8．超声波反射体的定位94

8.1．根据传播时间测定反射体距离96

8.2．超声波检测仪器的校正98

8.2.1．适当的对比试块100

8.2.2．直探头校正的建议105

8.2.3．斜探头校正用的标准对比试块116

8.2.4．K1试块上的调节和校验119

8.2.5．K2试块上的调节和校验125

8.2.6．距离和深度128

8.2.7．缩短的水平距离132

8.2.8．收发式探头的调节139

8.2.9．节点跨距——影响普通收发式探头的因素144

8.2.10．收发式直探头在曲率表面上的调节和检测149

8.2.11．收发式斜探头检测时的调节校正153

9．超声波反射体的评价157

9.1．耦合误差——评价误差的主要原因157

9.2．声束的形状159

9.2.1．直探头的声束162

9.2.2．斜探头的声束166

9.2.3．收发式探头的声束169

9.2.4．水延迟区对声束形状的影响174

9.2.5．声束的聚焦176

9.3．扫查法的缺陷评价178

9.4．回波振幅的评价188

9.4.1．AVG图表191

9.4.2．回波高度差的测量197

9.4.3．AVG图表中dB差201

9.4.4．直探头检测评价用的基准反射体203

9.4.5．斜探头检测评价用的基准反射体211

9.4.6．传输修正222

9.4.7．声衰减的测量224

9.4.8．超声波衰减和传输损失修正后回波高度评价232

10．缺陷类型的判断238