作者:工业和信息化部电子第五研究所组编;恩云飞,来萍,李少平编著;师谦,许广宁,何小琦,何胜宗等编写组成员 出版:北京:电子工业出版社 页数:455    ✅ 真实服务 非骗流量  ❤️ 出版时间:2015.10 (求助前请核对清楚) 求助编号:9139184040 (学习资料 勿作它用) 求助格式:PDF(无水印/扫描版)我要投诉 重要说明:求助即说明同意《文件求助条款》   Word/doc、ePubb、mobi、PPT、TXT
  • 本选题是工程应用类书,主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容,使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念,技术和设备、方法和流程,指导开展相关的失效分析工作,并了解失效预防的一些基本方法和手段。

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