作者：靳松，韩银和著 出版：北京：清华大学出版社 页数：181    ✅ 真实服务 非骗流量  ❤️ 出版时间：2019 （求助前请核对清楚） 求助编号：9146328780 （学习资料 勿作它用） 求助格式：PDF（无水印/扫描版）我要投诉 重要说明：求助即说明同意《文件求助条款》   Word/doc、ePubb、mobi、PPT、TXT

    • 本文的主要内容涉及了在纳米工艺下较为严重的晶体管老化效应-负偏置温度不稳定性（Negativebiastemperatureinstability–NBTI）和制造过程中引起的参数偏差。介绍了参数偏差效应产生的物理机制及对电路服役期可靠性的影响，并提出了从电路级到系统级的相应的分析、预测和优化方法。

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