本书针对绝缘栅双极晶体管（简称IGBT）寿命分布与可靠性分析问题，提出了一种基于双应力加速寿命试验和K-S检验的IGBT模块寿命分布研究方法。该方法首先对IGBT模块寿命做对数正态分布假设，然后利用Kolmogorov-Smirnov检验法对一组双应力恒定应力IGBT加速寿命试验数据进行Weibull、对数正态等分布检验，进而利用加速寿命测试数据分析软件（ALTA）对IGBT加速寿命数据进行仿真分析，结果表明，ALTA加速寿命仿真下的IGBT模块寿命仍服从对数正态分布，进一步验证了所提假设的正确性。该方法对IGBT的寿命分布及可靠性分析具有一定的指导意义。

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