作者：李晓维，吕涛，李华伟，李光辉著 出版：北京：科学出版社 页数：411    ✅ 真实服务 非骗流量  ❤️ 出版时间：2010.05 （求助前请核对清楚） 求助编号：9125815570 （学习资料 勿作它用） 求助格式：PDF（无水印/扫描版）我要投诉 重要说明：求助即说明同意《文件求助条款》   Word/doc、ePubb、mobi、PPT、TXT

    • 本书重点介绍过去五年内取得的相关研究成果，兼顾对国内外近期相关工作的扼要介绍。本书涉及数字集成电路模拟验证的覆盖量化评估和测试激励生成、形式化方法。主体内容包括量化评估、测试激励生成、形式验证三大部分。本书内容反映了中科院计算所在数字集成电路设计验证方面的最新研究进展，主要工作成果已在国内外学术刊物和会议上发表。基础研究成果“集成电路逻辑测试与验证基础技术”[本书第2，5～12章]获2007年度北京市科学技术奖。

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