本书基于编著者多年在集成电路设计与检测方面的科研实践,主要介绍了MOS晶体管、MOS管反相器、半导体集成电路基本加工工艺与设计规则、MOS管数字集成电路基本逻辑单元设计、MOS管数字集成电路子系统设计、MOS管模拟集成电路设计基础、集成电路的测试与可测性设计等内容。

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