本书是国内外首部系统介绍双棱镜多模式扫描理论与技术的专著。从原理上揭示了双棱镜多模式扫描机制,建立了双棱镜多模式扫描理论模型和实现技术,阐述了多模式扫描参数匹配、多模式扫描轨迹、扫描范围和精度、扫描盲区和非线性等问题。解决了双棱镜多模式扫描逆问题,提出了多种逆向解算法,分析了双棱镜多模式扫描的光束性质,并开展了双棱镜扫描的系统设计和性能测试研究。本书给出了大量双棱镜多模式扫描的计算和分析实例,原创了多种双棱镜扫描装置,为双棱镜多模式扫描技术的开发和应用奠定了基础。本书可以为光电扫描技术开发提供支持,也可以为高校、科研及企事业单位的光电爱好者提供参考。

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