本书主要从边界扫描技术的产生、原理以及应用三个方面,对边界扫描技术作了较为详细的介绍。包括用于数字电路测试的标准IEEE1149.1、混合电路测试标准IEEE1149.4、系统级测试标准IEEE1149.5、高速数字网络边界扫描测试标准IEEE1149.6,边界扫描技术在芯片设计中的应用,网络型边界扫描测试控制器的设计以及相关可测性及工程应用设计实例等内容。

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