作者:(美)塞纳拉伯丁·纳瓦比(ZAINALABEDINNAVABI)著;贺海文,唐威昀译 出版:北京:机械工业出版社 页数:370    ✅ 真实服务 非骗流量  ❤️ 出版时间:2015.06 (求助前请核对清楚) 求助编号:9137691220 (学习资料 勿作它用) 求助格式:PDF(无水印/扫描版)我要投诉 重要说明:求助即说明同意《文件求助条款》   Word/doc、ePubb、mobi、PPT、TXT
  • 这本书论述了数字系统测试和可测性设计,它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。本书的最大特点是广泛地使用Verilog和VerilogPLI编写测试应用,这把本书与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。

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