本书从集成电路测试出发,全面、系统地介绍了硬件安全与可信领域的相关知识。从结构上看,本书由18章构成,每章针对一个具体的研究领域进行介绍;从内容上看,涵盖了数字水印、边信道攻防、物理不可克隆函数、硬件木马、加密算法和可信设计技术等众多热门的研究方向;从研究对象上看,覆盖了FPGA、RFID、IP核和存储器等多种器件。每章末都提供了大量参考文献,可为读者进一步了解该领域提供帮助。

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