《扫描电镜测长问题的探讨》高清PDF
作者:周剑雄,陈振宇主编
出版:成都:电子科技大学出版社
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出版时间:2005.10 (求助前请核对清楚)
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本书汇集了微米、纳米长度的扫描电镜测量领域的多年研究成果,其内容包括了对扫描电子显微镜实验的认证和认可问题进行了释疑,简要论述了与测长相关的技术问题,对提高实验室的分析水平具有重要意义。
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