本书介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组识结构的原理、设备及试验方法。内容包括:X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及X射线法射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理等其他内容。

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