本书系统地论述了薄膜光学的基本理论和特性计算基础,在此基础上介绍了几种介质膜系及其应用。同时也介绍了多种成膜技术的基本原理与方法以及膜厚的测量与监控等,对薄膜的形成,薄膜的结构与缺陷和薄膜特性的测试原理和方法也作了系统介绍。本书在论述过程中注重基本概念的阐述,叙述尽量深入浅出,并注意到了原理与技术相联系,理论与实践相结合。

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