《公差配合与技术测量》高清PDF
作者:张文革,石枫主编
出版:北京:北京理工大学出版社
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出版时间:2010.07 (求助前请核对清楚)
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本书主要内容包括:极限与配合基础;技术测量基础;形状位置公差及检测;表面粗糙度及测量;光滑工件尺寸的检验与光滑极限量规设计等。
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