《表5 复合膜层厚度的正交分析Tab.5 Orthogonal analysis of thickness of composite film》

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《铝表面微弧氧化制备含ZrO_2复合陶瓷膜层的组织与性能》

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由上文分析可知，复合膜层由致密层与疏松层构成，在正交试验条件下分别对复合膜层总厚度、致密层厚度与疏松层厚度进行了分析，如图6和表5所示。试验结果表明:复合膜层总厚度为19.30～72.53μm；各因素对于复合膜层厚度影响从高到低的顺序为正向电压、Na2SiO3含量、ZrO2含量、NaOH含量。正向电压为影响膜层厚度最大的因素。正向电压较小时，生成的复合膜层相对较薄；随着正向电压增大，复合膜层厚度增加。如9号试样（正向电压475 V）的复合膜层厚度达到72.52μm，而2号试样（正向电压400V）的复合膜层厚度仅为19.30μm，正向电压对复合膜层厚度影响程度较大。复合膜层的疏松多孔层主要由α-Al2O3与γ-Al2O3组成，致密层由无定型的Al2O3组成[12]。当正向电压为475V、Na2SiO3质量浓度为10g/L、NaOH质量浓度为2.0g/L、ZrO2质量浓度为2.0g/L时，制备的复合膜层厚度最大。