《表3 Cd1短接下的试验数据》
(单位:V)
在工频条件下,图3中的RC串联电路中的电容容抗远大于电阻阻抗,晶闸管级的总阻抗Z由电容容抗决定,因此,工频条件下只能测试出电容的故障。将第一个晶闸管级辅助电路中的Cd1短接,然后测量各个晶闸管级两端的电压,测量结果如表3所示。
图表编号 | XD0014858700 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2018.07.05 |
作者 | 陈瑞、张斌、赵欣洋 |
绘制单位 | 国网宁夏电力公司检修公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
(单位:V)
在工频条件下,图3中的RC串联电路中的电容容抗远大于电阻阻抗,晶闸管级的总阻抗Z由电容容抗决定,因此,工频条件下只能测试出电容的故障。将第一个晶闸管级辅助电路中的Cd1短接,然后测量各个晶闸管级两端的电压,测量结果如表3所示。
图表编号 | XD0014858700 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2018.07.05 |
作者 | 陈瑞、张斌、赵欣洋 |
绘制单位 | 国网宁夏电力公司检修公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |