《表2 不同的引导图形周期下的LWR结果》
为了更加清楚地观察周期对共聚物分相的影响,将化学引导图形的周期设为0.95×2L0、0.975×2L0、2L0、1.025×2L0和1.05×2L0,实验中为了考虑制造过程中的工艺随机变化,设置了不同的仿真随机数,即保持除随机数之外的所有参数不变,进行DSA仿真,同时按照上述测量图形LWR的方法对DSA分相后的图形进行LWR计算,计算结果如表2所示,不同周期下LWR均值分别为0.411 4、0.706 0、0.480 2、0.713 7和0.635 2 nm。分析数据得出,当引导图形周期为2L0整数倍时,在±0.05L0周期范围内,共聚物微相分离所得线条图形的LWR最小。但也发现,当引导图形周期进一步增大或减小时,LWR又变小,基于此对二维图像仿真结果进行了观察,如图8所示。图8(a)为引导图形周期为0.95×2L0时分相图形和引导图形对准的局部示意图,图8(b)为引导图形周期为0.975×2L0时的示意图,图8(c)为引导图形周期为2L0时的示意图,图中线条边缘的绿色部分为引导图形,红色为共聚物分相部分。可以看出,随着引导图形周期进一步偏离共聚物自然周期的2倍,共聚物分相图形和引导图形的对准变得越来越差。除此之外,通过观察检测线测量数据发现,对于0.95×2L0周期的图形,几乎所有测量点的LWR值均为9.5 nm,即和目标线条宽度偏差了0.5 nm,这也就说明即使其LWR下降,这种偏差在制造过程中也是不希望出现的。可以得出,当引导图形周期为共聚物自然周期2倍时可以得到LWR最小的共聚物分相结果。
图表编号 | XD00115060900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.02.15 |
作者 | 郭成、粟雅娟、陈睿、董立松、张利斌、陈颖、盖天洋、韦亚一 |
绘制单位 | 中国科学院微电子研究所集成电路先导工艺研发中心、中国科学院微电子研究所微电子器件与集成技术重点实验室、中国科学院大学、中国科学院微电子研究所集成电路先导工艺研发中心、中国科学院微电子研究所微电子器件与集成技术重点实验室、中国科学院微电子研究所集成电路先导工艺研发中心、中国科学院微电子研究所微电子器件与集成技术重点实验室、中国科学院微电子研究所集成电路先导工艺研发中心、中国科学院微电子研究所微电子器件与集成技术重点实验室、中国科学院微电子研究所集成电路先导工艺研发中心、中国科学院微电子研究所微电子器件与集成 |
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