《表7 HSLT/TC/THS测试结果(优化4试验)》
如表7的测试结果显示,选取优化4试验后的样品各26颗分别进行HTSL(High Temperature Storage Life高温存储寿命)/TC(Temperature Cycling温度循环)/THB(Temperature Humidity bias温度湿度偏置)试验,结果均Pass。
图表编号 | XD00106457400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.10.05 |
作者 | 杜新、王西国 |
绘制单位 | 北京中电华大电子设计有限责任公司、射频识别芯片检测技术北京市重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |