《表4 脱模剂的影响:XPS、电导率、介电及局部放电测试结果》

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研究脱模剂影响的测试结果如图3和表4所示。由SEM图像可见,不涂脱模剂的A2表面存在着很多碎屑,而其余样品仅存在少量裂纹,说明脱模剂形成的釉层能够保护样品表面,从而保证材料表面的致密性。XPS测得的元素原子比中,A1的硅元素比例最高,A2的硅元素比例最低,这与脱模剂的涂抹情况相符(脱模剂中含有硅元素)。水接触角显示A2具有最大值,即脱模剂的存在会降低水接触角,削弱憎水性。红外光谱无明显差异,脱模剂的使用并未改变材料的化学键合。