《表2 238Pu对α能谱测定236Pu检测限的影响》
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《TBP-TEVA萃取色层分离-α能谱法测定辐照镎靶溶解液中痕量~(236)Pu的可行性》
在α能谱测量过程中,对236Pu分析易产生干扰的主要因素有样品源的自吸收,以及238Pu活度较大时的大量计数造成仪器本底噪声增加。通过电沉积不同活度的238Pu研究236Pu检测限的变化情况,结果列于表2。
图表编号 | XD0043000900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.02.20 |
作者 | 赵胜洋、常志远、应浙聪、苏玉兰 |
绘制单位 | 中国原子能科学研究院、中国原子能科学研究院、中国原子能科学研究院、中国原子能科学研究院 |
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