《表3 样品1实验前后平面度和性能变化》
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《集成双热电致冷器超长线列InGaAs组件封装技术》
实验后,采用影像仪测量平面度,表3为测量结果,组件的平面度及性能无明显变化。
图表编号 | XD003060600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.11.25 |
作者 | 徐勤飞、刘大福、徐琳、张晶琳、曾智江、范崔、李雪、龚海梅 |
绘制单位 | 中国科学院上海技术物理研究所传感技术联合国家重点实验室、中国科学院上海技术物理研究所中国科学院红外成像材料与器件重点实验室、中国科学院大学、中国科学院上海技术物理研究所传感技术联合国家重点实验室、中国科学院上海技术物理研究所中国科学院红外成像材料与器件重点实验室、中国科学院上海技术物理研究所传感技术联合国家重点实验室、中国科学院上海技术物理研究所中国科学院红外成像材料与器件重点实验室、中国科学院上海技术物理研究所传感技术联合国家重点实验室、中国科学院上海技术物理研究所中国科学院红外成像材料与器件重点实验室 |
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