《表1 仪器工作参数:电感耦合等离子体质谱法测定高纯金属钪中的稀土杂质》
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《电感耦合等离子体质谱法测定高纯金属钪中的稀土杂质》
NexION 300Q ICP-MS(美国Perkin Elmer公司)。质谱仪的输入功率、载气流量和采样深度直接影响元素的单电荷离子、氧化物离子、双电荷离子及氢化物离子等多原子离子的产率。具体仪器参数条件见表1。
图表编号 | XD0027037000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.10.01 |
作者 | 余荣旻 |
绘制单位 | 湖南稀土金属材料研究院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |