《表1 影响早期并发症危险因素的logistic回归分析结果》

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《经导管膜周部室间隔缺损介入治疗并发症及危险因素分析》

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注：VSD，室间隔缺损

logistic单因素回归分析显示：手术时间、封堵器直径与术后早期并发症相关（表1）。进一步行logistic多因素回归分析显示：手术时间（OR1.025，95%CI 1.012～1.038，P<0.001）、封堵器直径（OR1.225，95%CI 1.102～1.361，P<0.001）、年龄（OR 0.532，95%CI 0.356～0.793，P=0.002）是封堵术后早期并发症发生的危险因素（表1）。