《表5 不同溶样体系处理后各元素的测定结果》
分别移取5.00mL In标准溶液于两组300mL烧杯中,第Ⅰ组不加干扰元素(编号I),第Ⅱ组同时加入50mg As、25mg Sb和25mg Sn(编号II),分别采用盐酸-硝酸-高氯酸-氢溴酸(序号1)、盐酸-硝酸-高氯酸-氢溴酸-硫酸(序号2)、盐酸-硝酸-高氯酸-硫酸-氢溴酸(序号3)3种体系溶样,10%硝酸浸取,定容,测定In及共存元素的含量,具体见表5。表5中,As的测定方法为ICP-AES[1]、Sb和Sn的测定方法为原子吸收光谱法[19];第Ⅰ组用来比较溶样方法是否会引起In的损失,第Ⅱ组比较不同溶样方法的除杂质效果。由表5中3种体系内两组试验的结果数据对比可知,加一次氢溴酸和两次氢溴酸除杂时,In、As、Sb和Sn的测定结果没有很大区别;采用盐酸-硝酸-高氯酸-氢溴酸体系溶样时In的测定结果较理论值(0.50mg)偏低,采用第2和第3种体系时,In的测定结果与理论值相吻合,这说明采用第1种体系溶样会引起In的损失,而采用第2和第3种体系In基本不损失。将表5中第2和第3种体系分别与第1种体系间的结果数据对比可知,体系中加入硫酸后In不损失;将表5中第2和第3种体系结果数据对比可知,两种体系溶样后,As的测定结果基本保持一致,但第2组中Sb和Sn的测定结果均较第3种体系低一个数量级,这说明高氯酸体系下加氢溴酸冒烟后再冒硫酸烟对As、Sb和Sn的消除效果更好。实验选择第2种体系溶样,并采用氢溴酸加入一次除杂的方式来消除杂质元素As、Sb和Sn的干扰。
图表编号 | XD00214157400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2021.02.01 |
作者 | 袁丽丽 |
绘制单位 | 深圳市中金岭南有色金属股份有限公司韶关冶炼厂 |
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