《表3 国内典型机载成像光谱仪指标参数》

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《高光谱成像遥感载荷技术的现状与发展》

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中国从20世纪80年代就开始机载成像光谱仪的研制，研究发展基本与国际同步，由中国科学院上海技术物理研究所（以下简称中科院上海技物所）研制的MAIS，OMIS，PHI等机载成像光谱仪（Wang和Xue，1998；刘银年等，2002），性能指标（表3）达到了国际先进水平。