《表3 介质损耗因数及击穿电压》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《高导热少胶云母带在H级高压交流电机上的应用研究》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

线圈的介质损耗因数（tanδ）测试是检验绝缘结构内部是否存在缺陷的有效手段，击穿电压值可以直观反映出线圈绝缘结构的电气强度，两者均为判定高压交流电机定子绝缘性能优劣的重要指标。采用Doble Lemke公司的TD-SMART型数字式介质损耗因数及电容测试系统，按照JB/T 7608—2006《测量高压交流电机线圈介质损耗角正切试验方法及限值》的试验要求[14]，测量线圈试样的介质损耗因数，常态条件，测试电压为1.2、2.4、3.6、4.8、6.0 k V；热态（180℃）条件，测试电压为3.6 k V；采用上海杰智电工科技有限公司的JTGN-150型击穿电压测试仪，按照JB/T 12685—2016《高压电机定子线圈技术条件》和GB/T 1408.1—2016《绝缘材料电气强度试验方法第1部分：工频下试验》的试验要求[15-16]，测定线圈试样的击穿电压值。线圈试样的介质损耗因数及击穿电压测试结果如表3所示。