《表4 精密度测定结果:X射线荧光光谱法分析石灰石中SiO_2和CaO》
为了确认方法精度,分别各取龙山、赵家沟石灰石试样一个,在相同的制样条件下分析五次,用新建立的石灰石-龙山、石灰石-赵家沟曲线测定其含量,测定结果见表4。从数据中可看出此方法的精密度较高。
图表编号 | XD00189474800 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2021.02.01 |
作者 | 连喜萍 |
绘制单位 | 本钢检化验中心 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
为了确认方法精度,分别各取龙山、赵家沟石灰石试样一个,在相同的制样条件下分析五次,用新建立的石灰石-龙山、石灰石-赵家沟曲线测定其含量,测定结果见表4。从数据中可看出此方法的精密度较高。
图表编号 | XD00189474800 严禁用于非法目的 |
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作者 | 连喜萍 |
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