《表4 EIS拟合结果：元素硫对825合金在高温高压含CO_2/H_2S环境中腐蚀行为的影响》

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《元素硫对825合金在高温高压含CO_2/H_2S环境中腐蚀行为的影响》

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72 h后测得的EIS如图3和图4所示。其等效电路如图5所示，其中，Rs为溶液电阻，CPEdl为双电层电容，Rt为电荷转移电阻，CPEf为膜层电容，Rf为膜层电阻。EIS拟合结果见表4，由表4可知，含元素硫条件下，样品的膜层电阻和电荷转移电阻较大，可能是由于覆盖在样品表面的元素硫或者腐蚀产物膜引起的。需要指出的是，电化学阻抗谱仅反映的是样品表面的平均腐蚀信息，不能反映局部腐蚀信息。通过表面观察可知，825合金在此环境中发生的是局部腐蚀，因此，电化学阻抗谱结果不适合用于判定825合金的局部腐蚀行为。