《表1 单矿物微区X荧光探针分析结果》
单位:计数率
为了查明岩石中所含金属矿物的主要成分,对多个具有代表性岩石进行了光薄片的磨制。运用成都理工大学研制的微束微区X荧光探针分析仪对镜下金属矿物进行了测量,焦斑直径54um,测量时间200s,测量结果如表1。可以看出,矿物中以铁元素为主,Ni、Cu和Zn的含量都较低。
图表编号 | XD0017124600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2013.06.15 |
作者 | 杨海、葛良全、熊盛青、张庆贤、谷懿 |
绘制单位 | 成都理工大学核技术与自动化工程学院、成都理工大学核技术与自动化工程学院、成都理工大学核技术与自动化工程学院、中国国土资源航空物探遥感中心、成都理工大学核技术与自动化工程学院、成都理工大学核技术与自动化工程学院 |
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