《表2 不同方法下短路保护测试相关数据》
表2给出了不同方法下短路保护测试的相关数据。可见,与其他两种方法相比,基于源极寄生电感的“软关断”电路,在保证SiC MOSFET安全工作的前提下短路保护时间略有延长,但降低了器件关断时的电压应力,同时有效抑制了短路峰值电流,大大提高了器件的可靠性。
图表编号 | XD00167309800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.04.01 |
作者 | 秦海鸿、莫玉斌、张英、杨跃茹、赵朝会 |
绘制单位 | 南京航空航天大学自动化学院、南京航空航天大学自动化学院、南京航空航天大学自动化学院、南京航空航天大学自动化学院、上海电机学院电气学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |