《表2 ADC测试输入端口控制》
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《一种基于CS32F0XX芯片的ADC测试结构的优化方法及其FPGA实现》
如表2所示,CH为ADC通道选择信号,在测试引脚资源充足的条件下,可以设置TEST_REG[31:30]为2’b10,则CH信号可以由PB14~PB10之间的引脚直接输入。
图表编号 | XD0016613200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.08.20 |
作者 | 王月玲、杨晓刚、鲍宜鹏 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |