《表5 ASTM E1361-2002(2014）标准中吸收增强校正方程》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《金属材料分析国内外标准中波长色散X射线荧光光谱法的应用》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

ASTM E1361-2002(2014）指出，吸收增强效应校正方法主要有影响系数法和基本参数法，前者是依据X射线荧光强度理论强度公式（1）计算理论影响系数，经过试验验证后直接用来处理数据，后者是基于吸收系数、荧光产额、初级谱线分布和光谱仪尺寸等物理参数对X射线荧光强度进行精确计算来进行校正的，目前，2种方法的应用已出现交叉，基本系数法也可用于影响系数法的计算。该标准还对用于吸收增强校正的计算机程序NRLXRF校正步骤、基本影响系数校正步骤、SAP3电脑程序、CORSET-QUAN电脑程序以及蒙特-卡洛校正方法等进行了说明。该标准涉及的吸收增强效应校正方程见表5，其中Ri是相对纯元素的试样中分析元素强度，由基本参数方程（第一原则方程）得到。