《表3 电容数据对比分析表》

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《金属膜电容老化特性及寿命模型研究》

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膜电容的寿命在不考虑填充的绝缘介质和生产工艺的条件下，电容容值的衰减为电容膜的衰减过程。根据上述论证，通过加速老化试验和短期运行数据拟合得到容值随时间变化的函数，通过对运行5万h的10块电容进行测试比对进行方法验证。预测电容值与实际10块电容值如表3电容数据对比分析表所示，偏差率小于4.6%。