《表1 天线增益测试表：一种双相位中心测高频率扫描天线》

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《一种双相位中心测高频率扫描天线》

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对天线加工后在NSI平面近场进行测试，由于项目目前处于关键推广期，实物照片不便展示。选取高中低三个频率方位面方向图实测结果，如图10、11、12所示，增益采用对比法进行测试，增益测试结果如表1所示。