《附表X荧光光谱法和近红外光谱测点分析结果对照》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《永登鲁土司衙门壁画调查中的原位-无损分析技术应用》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

注:表中样品号“T”为塔尔殿测点；“WS”为万岁殿测点；“WH”为万岁殿回廊测点。“”为推断结果；“/”为不能得出结果。

对照XRF和NIR的85个测点分析结果（附表），只有不到10%的样品不能确定，包括全部的灰色颜料和少量红色和黄色颜料（可能是多种颜料混合、显色成分过少、元素干扰，等）。重金属元素的X荧光峰稳定性和准确度较高，可以作为对颜料判断的主要依据。85%以上的颜料分析得到了确定的结果，且可以互相印证。室内X衍射分析（XRD）再次证明了这点（图26-32），说明本套技术综合应用于壁画现场原位-无损调查准确性很高，方法可行。