《表2 矿石中部分杂质矿物电子探针分析》
在偏光显微镜观察的基础上,采用EPMA-1720型电子探针及牛津X-Max50 Aztec能谱仪对石英内部的微细包裹体有针对性的进行定点微区和面扫描分析(表2),目的是为了全面系统的了解杂质矿物的种类及杂质元素的赋存状态和分布规律,为后期提纯方法的确定提供理论指导。
图表编号 | XD00135970700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.03.20 |
作者 | 杨凡燕、李黎明、李科、周小平 |
绘制单位 | 宁夏回族自治区地质调查院、宁夏回族自治区地质调查院、宁夏回族自治区矿产地质调查院、宁夏回族自治区核工业地质勘查院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |